超声波扫描显微镜测试分类:
按接收信息模式可分为反射模式与透射模式。
按扫描方式分可分为C扫,激光开封机设备,B扫,激光开封机报价,X扫,激光开封机,Z扫,激光开封机厂家,分焦距扫描,分频率扫描等多种方式
超声波扫描显微镜的应用领域
半导体电子行业:半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等;
材料行业:复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等;
生物医学:细胞动态研究、骨骼、血管的研究等.
塑料封装IC、晶片、PCB、LED
超声波扫描显微镜应用范围:
超声波显微镜的在失效分析中的优势
非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构
可分层扫描、多层扫描
实施、直观的图像及分析
缺陷的测量及缺陷面积和数量统计
可显示材料内部的三维图像
对人体是没有伤害的
可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)
微光显微镜侦测得到亮点之情况:会产生亮点的缺陷 - 漏电结(Junction Leakage); 接触毛刺(Contactspiking); (热电子效应)Hot electr;闩锁效应( Latch-Up);氧化层漏电( Gate oxidedefects / Leakage(F-N current));多晶硅晶须(Poly-silicon filaments);衬底损伤(Substrate damage); (物理损伤)Mechanical damage等。原来就会有的亮点 -Saturated/ Active bipolar transistors; -Saturated MOS/Dynamic CMOS;Forward biased diodes/Reverse;biased diodes(break down) 等。
自动聚焦显微镜的研究在高倍率显微图像的处理过程中,自动聚焦具有重要意义。本文对动态自动聚焦显微镜的清晰度自动检测系统和高精度位置随动系统进行了分析,提出了理想的清晰度检测方法评价参数的特征,叙述了微分峰值检测法的原理、实验结果、控制系统的设计和整机性能评价。如有您需要订购,欢迎来电咨询我们公司,为您提供详细介绍!
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